季丰电子新增一台蔡司亚微米级X射线显微镜Xradia 620 Versa，这款X射线显微镜的系统提供了高功率的X射线源，显著提高X射线通量，从而加速了断层扫描速率 。事情效率提高达两倍，并且不会影响空间区分率，图像质量显着改善 。
古板3D X-Ray实测图片体素区分率：2.2um
ZEISS Xradia实测图片体素区分率：0.8um
ZEISS Xradia 620 Versa手艺特点：
620通过将两级放大结构与高通量 X 射线源手艺相团结实现大事情距离下大尺寸样品的高区分率成像，最高区分率可达0.5um，最高空间区分率500nm，最小体素40 nm 。
电压规模：30KV-160KV 。最大输出功率：25W 。
样品台承载负荷 。
样品台行程：50mm*100mm*50mm
3D XRay应用：
通过无损成像举行封装产品的缺陷剖析、Wirebond 、Bumps、PCB板中短路、断裂、裂纹等问题 。通常运用在破损性失效剖析之前举行三维可视化构建，镌汰人为切片引入的假象缺陷，从而提高失效剖析的乐成率 。
高阶3D X-Ray 清晰照片如下：
